奥林巴斯的USPM-RU-W近红外显微分光测定仪可以高速&高精细地进行可视光区域至近红外区域的大范围波长的分光测定。由于其可以很容易地测定通常的分光光度计所不能测定的细微区域、曲面的反射率，因此适用于光学元件与微小的电子部件等产品。

实的测定功能
使用一台即可进行反射率、膜厚、物体颜色、透过率、入射角45度反射率的各种分光测定。

◆测定反射率
测定以物镜聚光φ17～70μm的微小点的反射率。
◆测定膜厚
活用反射率数据，测定约50nm～约10μm的单层膜、多层膜的膜厚。
◆测定物体颜色
根据反射率数据显示XY色度图、L*a*b色度图及相关数值。
◆测定透过率
从受台下部透过φ2mm的平行光，测定平面样品的透过率。（选配）
◆测定入射角为45度的反射率
从侧面向45度面反射φ2mm的平行光，测定其反射率。（选配）

域的高精度&高速测定

◆实现高速测定
使用平面光栅及线传感器进行全波长同时分光测定，从而实现高速测定。
◆适用于测定细小部件、镜片的反射率
新设计了可以在φ17~70μm的测定区域中进行非接触测定的专用物镜。通常的分光光度计不能进行测定的细小电子部件或镜片等的曲面，也可以实现再现性很高的测定。
◆测定反射率时，不需要背面防反射处理
将专用物镜与环形照明组合，不需要进行被检测物背面的防反射处理，就可测定薄0.2mm的反射率*。
◆可选择的膜厚测定方法
根据测定的分光反射率数据进行单层膜或多层膜的膜厚解析。可以根据用途选择的测定方法。