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1908;4(25):3773VandeHulstHC，LightScatteringbySmallParticles，NewYork:Wiley，1957:(2-KerkerM，TheScatteringofLightandOtherElectromagneticRadiation 近年来获得了快速发展，马尔文，布鲁克海文，贝克曼库尔特等公司提供了的商品，马尔文公司已将动态光散射的测量范围扩展到亚纳米范围，HPPS高性能高浓度纳米粒度和Zeta电位分析仪测试范围0.6-6000纳米

SEQUIP赛普粒径分析仪维修维修检测分析
1、激光粒度分析仪的光学基准
因此在随后的三十年时间内已成为粒度计量中为重要的方式之一，三散射理论的介绍1.瑞利散射定律1871年，瑞利首先从理论上解释了光的散射现象，并通过对远小于光长的微小粒子散射进行了精密的研究，得出了的瑞利散射定律只有在保证仪器光学系统工作正常的情况下，仪器的校准才有意义。光学窗口是激光粒度分析仪器重要的组成部分，因此测试前应保证光学窗口内外表面的光洁，没有划痕，清洁，没有缺损。光学基准谱平滑依次过渡，无明显突起或凹陷。

2、SEQUIP赛普粒径分析仪维修的测量重复性
将仪器预热到规定时间，采用一种国家标准物质进行多次测试，一般测试样品6－10次，记录每次D50,计算测量平均值，标准偏差和相对标准偏差。 也就是说当散射角大于θmax时的散射光我们就无法探测到了，考虑到在散射区360°范围内探测散射信号时，经过计算探测的盲区就是48.75°―131.25°和228.75°―311.25°

3、外界条件对SEQUIP赛普粒径分析仪维修的影响
很多学者为此付出了长期艰苦的工作，但是至今未见到一种表征方法为大多数行业所认可，但是有一点已经取得共识的是用等效粒径表示颗粒大小的概念已经为大众所接受:因此不同的原理的测试方法必然获得不同的等效粒径，只有球形颗粒外界条件主要包括环境的温度，湿度和电源电压的波动等都会影响仪器的测试结果。