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三、项目及关键词

1、同步辐射吸收谱（XAS）

关键词：同步辐射测试，XAS，XANES，EXAFS、XANES、SAXS、XAFS、XMCD、XMCD、LIGA、ARPES、成像、真空紫外光电离质谱；生物大分子结构分析，Athena，XAFS  GIWAXS

项目简介：

X射线吸收精细结构（X-ray absorption fine structure，XAFS）也叫做X射线吸收谱（X-ray absorption spectroscopy，XAS），是一种基于同步辐射光源的，研究材料局域原子、电子结构的一种有力的工具。XAFS广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域，主要是基于以下优点：

1、不依赖于长程有序结构，可用于非晶态材料的研究；

2、不受其它元素的干扰，可对同一材料中不同的元素分别研究；

3、不受样品状态的影响，可以测量固体（晶体、粉末），液体（溶液、熔融态）和气体等；

4、对样品无破坏，可以进行原位测试；

5、能获得高精度的配位原子的种类、配位数以及原子间距等结构参数，一般认为原子间距的精确度可达0.01 Å；

6、检测下限低，最低可达几个ppm。

XAFS数据解析方面，可提供以下数据及服务： 

1、XANES部分图谱，提供价态、初步结构的定性分析；

2、EXAFS拟合，提供配位原子种类、配位数和键长信息，以及简单的、从物理角度对谱的分析；

3、wavelet图谱，作为EXAFS拟合的进一步证据，并用小波炫图提高数据分析“逼格”；

4、文章实验部分及数据讨论部分的修改，检查对结果的描述是否准确，是否有偏差；

5、帮忙回复审稿意见中关于XAFS的问题，提供中文回答。

2、球差透射（AC-TEM）

关键词：物镜球差透射电子显微镜（AC-TEM），物镜球差透射电镜（AC-TEM），HRTEM，Mapping，线扫EDS，纳米束，会聚束

项目简介：

双球差校正透射电子显微镜，能够在TEM模式和STEM模式下提高分辨率，分辨率小于60 pm。 

配有四个高效能谱探头，能够实现原子级别的化学成分分析； 

利用单色器和电子能量损失谱，对材料的局部区域的光学性质、电子结构以及原子环境等信息进行极高分辨率的表征。 

该透射电镜同时也能在透射、扫描透射和能谱模式下对材料进行三维重构。 

此外也配有洛伦兹模式、差分相位衬度和电子全息。

3、聚焦离子束（FIB）

关键词：FIB，聚焦离子束，镓离子束，FIBTEM，FIB-TEM，FIB/SEM聚焦离子/电子双束显微电镜，FIB-SEM，FIBSEM，微纳加工，Ga离子束

项目简介：

TEM透射样品制备：对于表面薄膜、涂层、粉末大颗粒，原位TEM芯片加工，晶界界面以及相界面等精准定位与加工TEM制样；

SEM/EDS剖面分析：可进行二次电子形貌分析且图像分辨率高、背散射电子衬度分析、EDS能谱分析；

EBSD电子背散射衍射分析：可进行晶体取向成像、显微织构、界面等分析，分析速度快，标定准确度高；

微纳结构加工：在微纳结构操作机械手、Omniprobe操作探针、离子束切割等的配合下，可以进行各种微纳结构的搬运、各种显微结构形状或图案的加工；

力学及电学性能测试：通过相应的附件，可以实现微纳结构的力学和电学性能测试；

三维重构分析：AutoSlice and View 自动连续磨削和观察，采集系列切片图像，获得三维重构图像

4、X射线光电子能谱（XPS）

关键词：X射线光电子能谱 AR-XPS XshexianguangdianziXshexianguandianzinengpu jiaofenbian 角分辨 ISS REELS  离子散射谱 反射电子能量损失谱 mapping AES UPS 俄歇电子能谱 紫外光电子能谱 exiedianzinengpu ziwaiguangdianzinengpu

项目简介：

XPS全谱加分谱，全谱加分谱（Mg靶），深度剖析，价带谱，AR-XPS，Ar离子刻蚀清洗，Mapping成像，数据分析

5、二次离子质谱仪（D-SIMS

关键词：静态二次离子质谱 jingtaiercilizizhipu fenxingshijianercilizizhipu 飞行时间二次离子质谱 TOF-SIMS SIMS

项目简介：

元素深度分布，元素平均浓度，二维成像，线扫描

6、液体透射电镜（TEM）

关键词：高分辨透射电镜，TEM，HRTEM，STEM，电子显微镜，面扫Mapping，线扫eds，选区衍射，晶带轴，SAED

项目简介：

1. 主要用于无机材料（粉体）微结构与微区组成的分析和研究，不适用于有机和生物材料；

2. 表征范围：微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等；

3. 成像：衍衬像、高分辨像 (HRTEM)、扫描透射像；

3. 微区成分： EDS 能谱的点、线和面分析，电子选区衍射。