产品系列
晶体管图示仪
半导体分立器件测试筛选系统
静态参数测试（包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等）
动态参数测试（包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等）
环境老化测试（包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等）
热特性测试（包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等）
可测试 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件

K曲线测试仪

ST-Thermal_Kcurve

可测试 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的K曲线

扩展功能包括：功率循环·秒级&分钟级/Pcsec&PCmin，被动循环/TC，热阻（抗）/Rth/Zth，K曲线/Kcurve

♦电路原理简图

      说明： Qf为总进线保护断路器，电源电压经过电压调节到主功率变压器，由主功率变压器到整流和滤波单元，产生大功率直流电源。再由电子开关施加到被测单元。图中二极管为隔离二极管，热敏电流单元提供足够大的热敏电流。触发单元施加规定的触发电压，处于导通状态。工控机和PLC智能系统保证设备的正常工作时序和操作人员安全。冷却系统和气路系统保证设备的可靠运行

♦产品特点
 品类齐全的DUT适配器（针对不同封装外观的器件及模块，提供专用的适配连接装置）；
 系统具有过流、过热、水压不足等保护功能。具有连续工作的特点；
 测试程序由计算机控制，按设定的程序进行自动测试，且系统采用内控和外控两种方式，便于工作人员操作；
 脱机状态时，面板显示每个工位的壳温，试验电流、试验次数、加热时间、冷却时间等；
 器件保护：被测器件及模块的特性变化超过限值后自动停止测试；
 安全稳定（PLC 对设备的工作状态进行全程实时监控并与硬件进行互锁）；
 智能化，通过主控计算机进行操控及数据编辑，测试结果自动保存及上传指定局域网；
 安全防护：系统具有防爆、防触电、防烫伤、烟雾、漏液等多重保护，结合远程测试能力确保操作人员安全。
 配有漏电保护器及空气开关，对短路、过载及漏电等情况进行保护，设计符合CE认证；

♦技术规格