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天光测控-分立器件静态参数测试仪
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天光测控-分立器件静态参数测试仪

发货 陕西省西安市
参数

天光测控

品牌

ST-SP_X

型号

1V~10KV

测量范围

1mV

测量精度

主营: 仪器仪表制造业

陕西省西安市

分立器件静态参数测试仪

系统概述
晶闸管综合参数测试系统,是大功率晶闸管测试的重要检测设备,该设备具
有如下特点:
1. 该测试系统是一套综合的测试系统,综合测试参数多,技术难度大。
2. 该测试系统是一套高压大电流的测试设备,对设备的电气性能要求高。
3. 该系统是一套动态和静态参数的集成测试系统,因此该设备的结构设计难度大。
4. 该系统的测试控制完全采用自动控制,测试可按测试员设定的程序进行自动测试。
5. 系统采用计算机记录测试结果,并可将测试结果转化为 Excel 文件进行处理。 
6. 该测试系统是晶闸管出厂检验测试中不可缺少的专用测试设备。该套测试设备主要测试晶闸管。
测试参数;
1) 门极触发参数测试单元
2) 维持电流测试单元
3) 擎住电流测试单元
4) 阻断参数测试单元
5) 通态压降参数测试单元
6) 电压上升率参数测试单元
7) 关断时间参数测试单元
8) 恢复电荷参数测试单元
技术条件
环境温度:15~40℃
相对湿度:下图给出了该测试台湿度与额定电压的关系,请按照以下条件使用。(注:存放湿度不大于 80%。)
大气压力: 86Kpa~ 106Kpa
电网电压: AC220V±10%无严重谐波
电网频率: 50Hz±1Hz
测试范围
1. 门极参数测试:VGT、IGT
2. 维持电流测试:IH
3. 擎住电流测试:IL
4. 阻断参数测试:VD、VR 、ID、IR
5. 压降参数测试:VTM、ITM 、Vr、Ir、Vf、If、
6. 电压上升率参数测试:dv/dt
7. 关断时间参数测试:Tq
8.恢复电荷参数测试:Qrr、Irr、Trr 


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产品属性
品牌 天光测控
型号 ST-SP_X
测量范围 1V~10KV
测量精度 1mV
栅极驱动 Vge 0.5~30V
测试范围 IGBTs,MOSFETs,DIODEs 等
测试参数 IGEs,VGE(th),VCEsat,VF,VP,ICEs
关 闭
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询价产品: 天光测控-分立器件静态参数测试仪

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