天光测控
品牌
TRd 2015
型号
2000A1500V
测量范围
VGE±1% ±0.2V
测量精度
张先生
主营: 仪器仪表制造业
陕西省西安市
半导体器件动态参数测试系统
系统概述
IGBT是广泛应用于现代中、大功率变换器中的主流半导体开关器件,其开关特性决定装置的开关损耗、功率密度、器件应力以及电磁兼容性,直接影响变换器的性能。因此准确测量功率开关元件的开关性能具有极其重要的实际意义。
天光测控IGBT动态参数开关短路反向恢复测试,该系统是针对IGBT器件的开关性特性及IGBT内部续流二极管的反向恢复特性而专门设计的一套全自动测试系统,适用于电流不超过1500A和集电极电压不超过3500V的IGBT器件开关时间测试以及正向电流不超过2000A的二极管反向恢复特性的测试。
基础规格
规 格:1800×800×800(mm)
质 量:155Kg
环境温度:15~40℃
相对湿度:小于80%
大气压力:86Kpa~ 106Kpa
电网电压:AC220V±10%无严重谐波
电网频率:50Hz±1Hz
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