天光测控
品牌
ST-DC2548
型号
±2.5mV~2KV / ±1nA~100A
测量范围
1%+10mV / 1%+10nA+20pA/V
测量精度
张先生
主营: 仪器仪表制造业
陕西省西安市
大电流、高电压: | 安全性: |
1:50A/2500V; | 1)选择测试端口、测试盒错误的提示; |
2:400A~4800A, 5kV~10kV(20kV可定制); | 2)选择器件测试种类错误的提示; |
多品种多参数: | 3)器件管脚插入方向及连接错误的提示; |
12种半导体器件 ,137个测试参数; | 独创性: |
高精度: | 特有IGBT 6-1、4-1、2-1解码器; |
高精度放大器电路和低杂讯的测量回路,可准确的捕捉到小电流下的mV級导通压降与mΩ级导通电阻; | 易用性: |
触摸屏操作,脚踏开关控制;测试菜单简洁专业,可快速操作; | |
自动化: | 一体化: |
参数测试自动化,无需复杂设置; | 整机测控一体式设计; |
动态参数测试: | 图示仪: |
IGBT及MOSFET扩散电容参数; | 内置图示仪功能; |
栅极输入阻抗动态参数测试; |
•大功率半导体器件静态参数测试系统测试12种半导体器件多达137个参数
•强大的测试能力,提供高达10kV/4800A的测量源,保证了对各种大功率器件的测试
•高精度的放大器电路和低杂讯的测量回路可准确的捕捉到小电流下的mV級导通压降与mΩ级导通电阻;
•自校准功能保证设备随时处于良好状态
•多重安全性提示:选择测试端口、测试盒错误的提示;选择器件测试种类错误的提示;器件管脚方向及连接错误的提示。有效防止测试错误造成设备和被测器件的损坏。
•仪器操作简单方便:采用触控屏幕操作,脚踏开关控制;简洁专业的测试菜单,可快速操作
•动态参数测试:测量MOSFETs及IGBTs扩散电容参数(Cies,Coes,Cres,Ciss,Coss,Crss)及栅极的输入阻抗参数(Zin),帮助用户筛选出低损耗、高效率的器件。
•内置图示仪功能,快速绘制各种特性曲线
•自动化测试:提供全自动参数测量,无需复杂设置和连线;GO/NO GO模式自动判别被测器件好坏。
•恒温控制的功能可将被测器件加热至250℃(选配)
•专用的各种测试工装,方便快速测试各种封装的大功率器件
•具有机械手接口可连接探针台供晶圆或成品量产测试
•独创IGBT 6-1,4 -1,2-1模组解码器:解决对模组中6,4,2个IGBT逐一测试的问题
•整机测控一体式机柜设计,无需单独连接PC,占地小操作方便。
•安全启动测试的功能,防止使用者因误启动而触电
•USB接口,可同时外接打印机,键盘,与鼠标
•提供精确的“开尔文”测量回路,或可自动校准的“非开尔文”测量
•测试脉冲10us~300us,连续可调
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