我国学者对不同时期WDXRF的进展曾予以评述。WDXRF谱仪从仪器光路结构来看，依然是建立在布拉格定律基础之上，但仪器面目全新。纵观30年来的发展轨迹，可总结出如下特点 。

(1) 现代控制技术的应用使仪器精度大幅度提升。WDXRF谱仪在制造过程中，从20世纪80年代起，一些机械部件为电子线路所取代，电子线路又进而被软件所取代。如一些仪器制造商分别用无齿轮莫尔条纹测角仪和激光定位光学传感器驱动测角仪，取代传统θ/2θ齿轮机械运动的测角仪，2θ扫描精度也由齿轮机械运动的±0.001°提高到±0.0002°，2θ扫描速度提高到 80°/s。高压发生器经历了高压放大器稳压、双向可控硅与脉冲触发电路、谐波调制电路到今天的模块化设计的固态发生器电路，在外电源电压±10%的变化范围内，高压电源的稳定性可达0.00005%。近年来电子学线路由模拟电路发展为数字电路。这些改进既改善了仪器性能又降低了成本，并使XRF谱仪小型化。谱仪24 h长期稳定性达到小于等于两倍的相对计数统计误差。

我国学者对不同时期WDXRF的进展曾予以评述。WDXRF谱仪从仪器光路结构来看，依然是建立在布拉格定律基础之上，但仪器面目全新。纵观30年来的发展轨迹，可总结出如下特点 。

定性和半定量分析自动化。在20世纪80年代，由有经验的分析工作者通过查阅扫谱图来判断定性分析结果，但要依据定性分析结果估算为含量是十分困难的。现在商品仪器基本上配有定性和无标准样(半)定量分析软件，在绝大多数情况下不仅自动给出样品的元素组成，还可得出近似定量的分析结果。

WDXRF以其的准确度、精密度和可靠性著称。这种强大的分析技术，使其可用于所有形式的工业应用，包括：水泥生产、玻璃生产、、选矿、钢铁及有色金属、石油和石化、聚合物及相关行业、制药、保健产品和环保等。

WDXRF 光谱仪中，X 射线光管用作直接照射样品的光源，并且使用波长色散式检测系统来测量样品发出的荧光。 分光晶体根据波长（而不是能量）来分离 X 射线，可用于识别每种不同元素发出的特征辐射。 此类分析可以通过逐一（依次）测量不同波长的 X 射线强度来完成，或者在固定位置同时测量所有不同波长的 X 射线强度。 X射线管需要高功率，需要专门的冷却装置（水冷或油冷），需要分光晶体及测角仪，因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。