ADQ1600RF  14bit射频数字化仪

概述

ADQ1600RF一款14位射频数字化仪。 利用SP Devices的ADC交错技术ADX实现的独特1600MSPS捕获率，ADQ1600RF可以满足苛刻的测量要求，例如RF/IF采样，高分辨率超声成像和高速数据记录。ADQ1600RF的模拟-3dB带宽为750MHz，AFE经过交流耦合，并针对大带宽上的频谱纯度进行了优化。

主要规格

分辨率：14位

输入信号范围：2.2 Vpp

输入通道：1

触发：软件/扩展/级别

外部时钟：0.25-2Vpp

时钟参考：时钟参考Int./Ext./PXIe

接口：USB 3.0，cPCIe， PXIe，PCIe，MTCA.4 µTCA

采样率：1.6 GSPS

输入带宽：750 MHz

内存大小：512 MSamples

关于Teledyne SP Devices

Teledyne SP Devices设计和制造性能高的数字化仪，实现了高采样率和高垂直分辨率的结合。产品性能性能优异，拥有交织采样模数转换器（ADC）专利解决方案，应用领域包括激光扫描、 质谱分析、信息对抗、雷达、超声波、大气物理学等。板卡的FPGA上预先装载了大型实时信号处理模块，同时还免费提供一套软件开发工具包（SDK）。 还有一个可选的FPGA固件开发工具包以供用户访问板载FPGA。

ADQ214-DCLN-低噪声14位数字化仪

ADQ214-DCLN 数字化仪具有双通道、14 位分辨率、400MSPS采样速率，并针对精度高的低噪声测量进行了优化，ADQ214-DCLN包括一个数字实时抽取滤波器，用于噪声抑制和准确分析。直流耦合的低噪声前端针对频谱纯度进行了优化，抗混叠100MHz低通滤波器可防止高频噪声混叠到信号带中，是相位噪声测量和宽带IQ接收的理想选择。

采样率：70-400MSPS

输入通道：2

输入带宽：DC-100MHz

100 kHz时的噪音水平：-170 dB

输入信号范围：650mVpp

内存： 64 MSamples/Ch

FPGA和ADQ开发套件

ADQ214-DCLN采用两个Xilinx SX50T Virtex 5 FPGA（XC5VSX50T-1）。用户可以通过购买ADQ开发套件来访问这些FPGA并实现定制的数字信号处理。该套件包含了FPGA开发入门所需的一切，还包括示例和文档。

ADQ214-双通道14位数字化仪

ADQ 214是一款具有双通道，14位分辨率，400 MSPS采样率的数字化仪。850MHz的模拟输入带宽，每通道64 MSample的存储。高速率，高分辨率与宽带宽相结合，使其成为宽带应用的理想选择，例如RF信号的IF采样和高速数据记录。 ADQ 214具有出色的光谱纯度和低噪声特性，因此非常适合进行噪声测量。

采样率：70-400MSPS

输入带宽：DC-850MHz

输入通道：2

输入信号范围：2.2 Vpp

内存大小：每通道64 MSamples 。

触发：软件/扩展/级别

可选接口：USB 2.0和PXIe

关于Teledyne SP Devices

Teledyne SP Devices设计和制造性能高的数字化仪，实现了高采样率和高垂直分辨率的结合。产品性能优势是ADX专利，广泛应用于激光扫描、 质谱分析等方面。 数字化仪可用多种总线接口形式，包括USB、 10GbE、PCIe、cPCIe/PXIe、MTCA.4，并且也支持扩展模块例如SSD数据记录模块，10 Gbit高速 光纤以太网数据传输，触发/定时模块，使板内实现多通道同步。