高速数据采集卡形态    

目前业内板卡形态的高速数据采集卡，较高的采样频率，有5GS/s、8GGS/s、10GS/s或32GS/s等。高速数据采集卡总线接口形式一般有：PCI Express、compactPCI、PXI、PXIExpress、VPX、USB等。选择高速数据采集卡时一般会从以下指标进行评估：采样率、精度、通道、总线接口、带宽、输入量程、耦合方式、FPGA是否资源开放等。

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高速数据采集卡的比较

高速数据采集卡种类繁多，功能相差较大，有高采样率和高分辨率的，也有高采样率低分辨率，也有低采样率高分辨率。除此之外，还有单通道和多通道采样之分，以及宽带之间的差异。

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采集卡的抗干扰问题

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高速数据采集卡可能引进噪音，主要包括来自周围电子器件的随机干扰、与激光器发射相关的电磁干扰和本底基线偏移。本底基线指激光雷达系统的暗背景测量基线，理想情形它是一条水平直线。可是在实际系统中经常观察到起点偏移，我们称本底基线偏移。这种偏移很小，但是它不稳定，它与真实的信号重叠在一起成为测量误差。为了能探测到污染分子的存在，必须很大的提高系统灵敏度，通常要把激光测量重复几千次甚至几万次以提高信噪比。同时必须尽量的减小各种干扰，包括这种基线偏移。

实验证明，减小外触发信号可以减小本底基线偏移；说明基线偏移的一个重要来源是外触发电压。其产生的原因可能是板卡设计上的缺陷，外触发信号的一部分经过分布电容耦合到了信号输入端。基线偏移的另一个重要来源是激光高压放电脉冲干扰，它很不稳定，与接线情况，地线好坏，板卡设计，温度湿度等都有关系。