SemiProbe
品牌
PS4L SA-x
型号
900 mm x 650 mm x 750 mm
产品尺寸
80Kg
重量
王小姐
主营: 光学平台 | 光学成像设备 | 分光光度计
广东省广州市
半自动探针台/晶圆测试探针台/半导体探针台/高低温探针台/SemiProbe
品牌:SemiProbe
型号:PS4L SA-x
描述:SemiProbe半自动探针台采用了 SemiProbe 独家专利技术 Probe System for Life (PS4L)可适应性模块化结构设计,提供了无与伦比的灵活性并大大地节省了设备资金和费用。与传统的探针台相比,SemiProbe 的 PS4L 系列探针台中所有的基础模块-基座,卡盘支架,卡盘,显微镜装置,显微镜移动,光学组件,操纵器等都是可以更换的,使得 PS4L 系列探针台以其极大的灵活性和性价比满足了多种应用需求,为客户提供了非常经济适用以及完美的解决方案。更重要的是,PS4L的模块化结构设计,可以使探针台在一个基本平台的基础上不断的进行升级。可根据测试环境和测试条件的改变而进行现场升级,由手动探针台升级为半自动探针台,半自动探针台升级为全自动探针台,或者6”升级为8”,8”升级为12”,增加密闭测试仓,增加高低温等,以满足用户新的要求。这样的设计理念使得即使当晶圆尺寸,自动化的程度或者测试要求发生改变时,PS4L 也无需重新更换新的平台,便可用最短的时效和最少的费用完成测试。
PILOT控制软件:
SemiProb的半自动探针系统使用 SemiProbe 的 PILOT 控制软件包进行操作,软件和 PS4L 硬件一样采用的是SemiProbe 独家专利技术 Probe System for Life(PS4L)可适应性结构化设计。PILOT 软件包是一款模块化最明显、最直观且易操作的软件。在不改变核心控制软件的前提上,客户可增添控制模块来增加额外的功能和附件。其一般的功能比如2点校准,功能强大且易操作——甚至不经常操作设备的用户也非常容易上手。
产品特点:
l 可灵活改变测试尺寸
l 半自动测试,节省测试时间
l 可升级为全自动探针系统
l 模块化设计,可以更换关键部件
l 结构简洁,方便操作
应用范围:
l 光伏工业
l 材料科学
l 光电行业
l 失效分析
l 通信器件测试
l 微机电技术
技术参数(型号:PS4L SA-4):
产品尺寸:900 mm x 650 mm x 750 mm
重量:80Kg
输入电压:110/220V 50/60Hz,20A
真空:23 Hg or -0.8 bar
卡盘X-Y轴轨道:NEMA 17步进电机,光学线性编码器
行程:105*105mm
速度:50mm/s(最大)
平面性:±6μm
分辨率:0.1μm
重复性:±0.5μm
精度:±3um
卡盘Z轴轨道:行程:15mm
分辨率:0.5μm
重复性:±1.5μm
θ移动:行程:±4°(可定制)
分辨率:0.0008°
卡盘类型:真空或机械夹紧,圆形或方形,三轴,高频,高压/高电流,高低温等
压盘:铝和不锈钢顶部,可拆卸前楔
360度机械手放置
压盘位移:可选择固定和线性调节
线性调节范围:40mm粗调,200um微调
可选配件:包括探针卡,操纵器,操纵臂和基座, 探针,激光,光学部件,CCTV 系统,隔振台,暗箱。
半自动探针台/晶圆测试探针台/半导体探针台/高低温探针台/SemiProbe
黑体辐射源-面源中低温黑体-面源黑体-扩展面源黑体-ISDC
面源黑体-面源中低温黑体-黑体辐射源-ISDC
灰阶响应时间-动态影响分析测量-单机使用或集成模组-Microvision
时间拉伸超快光谱仪-瞬态测量光谱仪-Tachyonics-超快光谱仪
单发瞬态光谱仪-时间拉伸光谱仪-时间拉伸超快光谱仪-Tachyonics
超快拉伸时间光谱仪-色散傅里叶变换光谱仪-10亿帧每秒-Tachyonics
黑体辐射源-面源中低温黑体-面源黑体-扩展面源黑体-ISDC
面源黑体-面源中低温黑体-黑体辐射源-ISDC
灰阶响应时间-动态影响分析测量-单机使用或集成模组-Microvision
时间拉伸超快光谱仪-瞬态测量光谱仪-Tachyonics-超快光谱仪
单发瞬态光谱仪-时间拉伸光谱仪-时间拉伸超快光谱仪-Tachyonics
超快拉伸时间光谱仪-色散傅里叶变换光谱仪-10亿帧每秒-Tachyonics
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