菲希尔荧光镀层测厚仪介绍:

在电镀或电子元件生产过程中需要快速且准确地测定镀层厚度时，XUL®系列测量仪器是您的*选解决方素。X射线荧光仪諸可自 下而上进行测量，能够在测量台上对样品进行轻松定位。该系列的所有X射线仪器均配备相同的探测器。您可以根据自己的测量 需求选择不同的准直器、滤波器以及X射线管。

特性：

1. 凭借竟大的测量室和自下而上的测量方向，即使大型样品（如：印制电路板或柔性电路板）也可简便、快速地定位
2. 硬件选项丰富多样，可满足各种测量需求
3. 可选配微聚焦X射线管，从而可测量直径仅为100卩m的微型结构和测量表面

特征：

1. 带玻璃窗口和铝靶的X射线管或带镀窗口和铝靶的微聚焦X射线管。*高工作条件:50KV,50W
2. X射线探测器采用比例接收器
3. 准直器:固定或4个自动切换，0.05 x0.05mm到直径00.3mm
4. 基本滤片固定或3个自动切换
5. 测量距离可在0-27.5mm范围内调整
6. 固定的样品支撑台或手动XY工作台
7. 摄像头用来查着基本射线轴向方向的测量位置。刻度线经过校准，显示实际测量点大小。